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Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.creatorLozano Fantoba, Manuel-
dc.creatorPerelló García, Carles-
dc.creatorEnrich Sard, Xavier-
dc.creatorSantander Vallejo, Joaquín-
dc.date2008-06-13T12:40:20Z-
dc.date2008-06-13T12:40:20Z-
dc.date2005-03-16-
dc.date.accessioned2017-01-31T01:41:31Z-
dc.date.available2017-01-31T01:41:31Z-
dc.identifierPublication nr.: ES 2195786 B1-
dc.identifierES 2195786 B1-
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/10261/5098-
dc.identifier.urihttp://dspace.mediu.edu.my:8181/xmlui/handle/10261/5098-
dc.descriptionReferencia OEPM: P200201114 .-- Fecha de solicitud: 16/05/2002.-- Titular: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).-
dc.descriptionEl objeto de esta invención es un sistema para leer marcas del tamaño de micras en obleas de semiconductor, adaptable a estaciones de prueba para medirlas. Estas pueden ser códigos de barras conteniendo información o marcas especiales para el alineamiento de los ejes de los chips en la oblea con respecto a los ejes de movimiento X e Y de la estación. Consiste en un sistema lector láser de los utilizados en reproductores de CD y permite resolución de micrómetros. El sistema de lectura está fijo y es la oblea, gracias a los motores de la estación de pruebas, quién se mueve. Las ventajas son su simplicidad, puede adaptarse a cualquier estación de pruebas existente y resulta muy barato. Además permite la lectura de microcódigos de barras, conteniendo información relevante de cada chip-
dc.descriptionPeer reviewed-
dc.format351271 bytes-
dc.formatapplication/pdf-
dc.languagespa-
dc.rightsopenAccess-
dc.subjectMicrocódigos de barras-
dc.subjectLáser-
dc.titleSistema de alineamiento de obleas y de lectura de microcódigos de barras y de marcas en chips con láser-
dc.typePatente-
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