Descarga Interna e Tensão de Retorno em Capacitores

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Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.creator	Robert Renê	-
dc.date	2001	-
dc.date.accessioned	2013-05-29T20:38:43Z	-
dc.date.available	2013-05-29T20:38:43Z	-
dc.date.issued	2013-05-30	-
dc.identifier	http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0102-47442001000300007	-
dc.identifier	http://www.doaj.org/doaj?func=openurl&genre=article&issn=01024744&date=2001&volume=23&issue=3&spage=294	-
dc.identifier.uri	http://koha.mediu.edu.my:8181/jspui/handle/123456789/1796	-
dc.description	Os fenômenos de descarga interna e tensão de retorno em capacitores são calculados no caso onde a resposta do dielétrico é da forma exponencial no tempo. Com esta hipótese a matemática envolvida é simples e as características gerais dos fenômenos de hereditariedade podem ser seguidas.	-
dc.publisher	Sociedade Brasileira de Física	-
dc.source	Revista Brasileira de Ensino de Física	-
dc.title	Descarga Interna e Tensão de Retorno em Capacitores	-
Appears in Collections:	Physics and Astronomy

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